表面污染測量儀用于直接測量的表面污染測量儀要能夠探測低于規(guī)程限值水平的污染。測量時(shí)，探測器要盡可能靠近表面移動(dòng)，一旦探測到污染，探測器應(yīng)在該區(qū)域定位測量足夠時(shí)間，以確認(rèn)污染水平。

 

　　表面污染測量儀對(duì)被檢測對(duì)象表面可以看得見的污物或氧化物在不能去除的情況下，要考慮對(duì)污染源效率的影響。在表面不是很平整的情況下，要評(píng)估檢測對(duì)象表面形狀對(duì)儀器效率的影響。

 

　　為了準(zhǔn)確測量總的表面活度，現(xiàn)場監(jiān)測儀器要經(jīng)過適當(dāng)刻度。刻度源應(yīng)選擇其發(fā)射的α或β輻射與現(xiàn)場污染物預(yù)期的輻射能量相似。有代表性的刻度源要用現(xiàn)場被評(píng)估的放射性材料制備。

 

　　表面污染測量的基本要求是及時(shí)發(fā)現(xiàn)是否有污染，確定污染點(diǎn)位和范圍，并給出污染區(qū)域內(nèi)污染核素的量值。常用的表面污染監(jiān)測儀器是便攜式的和車載式的，更先進(jìn)的表面污染監(jiān)測管理系統(tǒng)也已經(jīng)開發(fā)，用的是位置靈敏探測器，它不僅可以準(zhǔn)確給出污染點(diǎn)位，同時(shí)還可在顯示屏幕上三維顯示污染圖像和量值。表面污染監(jiān)測的對(duì)象主要是發(fā)射α、β或γ的核素，測量方式有α污染測量，β污染測量，α/β污染測量，α/γ污染測量。

 

　　表面污染可以用直接測量、掃描測量和間接測量確定。直接測量是用監(jiān)測儀器進(jìn)行，可以測量固定污染，也可測量松散污染；測量時(shí)，以適當(dāng)距離在待測對(duì)象的上方放置探測器，按預(yù)定時(shí)間間隔測量并記錄讀數(shù)。

 

　　對(duì)一些不能活動(dòng)的固體或者貯存有液體的表面，或者有高本底影響，或者測量儀器不能靠近表面，直接測量是困難的，甚至是不可能的。此時(shí)只能采用間接測量方法。