為什么表面污染測量儀要經(jīng)過適當(dāng)刻度?
更新時(shí)間:2022-09-28 點(diǎn)擊次數(shù):980
表面污染測量儀用探測器在可能受到污染的表面上方進(jìn)行移動測量,以確定受污染的區(qū)域或點(diǎn)位,在發(fā)現(xiàn)異常點(diǎn)位時(shí)再進(jìn)行定位測量。
在環(huán)境輻射的測量中,對室內(nèi)、外場地及物體的表面污染進(jìn)行直接或間接測量,對于及時(shí)發(fā)現(xiàn)是否有污染以便采取決策行動是十分重要的。表面污染測量的基本要求是及時(shí)發(fā)現(xiàn)是否有污染,確定污染點(diǎn)位和范圍,并給出污染區(qū)域內(nèi)污染核素的量值。
表面污染測量儀有便攜式的和車載式的,更先進(jìn)的表面污染監(jiān)測管理系統(tǒng)也已經(jīng)開發(fā),用的是位置靈敏探測器,它不僅可以準(zhǔn)確給出污染點(diǎn)位,同時(shí)還可在顯示屏幕上三維顯示污染圖像和量值。表面污染監(jiān)測的對象主要是發(fā)射α、β或γ的核素,測量方式有α污染測量,β污染測量,α/β污染測量,α/γ污染測量。
表面污染可以用直接測量、掃描測量和間接測量確定。直接測量是用監(jiān)測儀器進(jìn)行,可以測量固定污染,也可測量松散污染;測量時(shí),以適當(dāng)距離在待測對象的上方放置探測器,按預(yù)定時(shí)間間隔測量并記錄讀數(shù)。
間接測量是用擦拭方法確定松散污染的水平。對一些不能活動的固體或者貯存有液體的表面,或者有高本底影響,或者測量儀器不能靠近表面,直接測量是困難的,甚至是不可能的。此時(shí)只能采用間接測量方法。
為了準(zhǔn)確測量總的表面活度,現(xiàn)場監(jiān)測儀器要經(jīng)過適當(dāng)刻度??潭仍磻?yīng)選擇其發(fā)射的α或β輻射與現(xiàn)場污染物預(yù)期的輻射能量相似。有代表性的刻度源要用現(xiàn)場被評估的放射性材料制備。